一种固态存储器后端回环测试方法

本发明涉及固态存储领域，具体是一种固态存储器后端回环测试方法。本方法将回环测试接口的实现与上层主要业务逻辑分离，使得在保留后端处理流程架构的基础上，仅适当修改初始化步骤并替换闪存控制器相关寄存器操作的回调函数就可以从正常固件运行模式切换到回环测试模式，提高了代码的复用性和兼容性，减少了后续固件开发过程中代码维护的难度和成本。用软件实现的循环队列和位图映射表作为模拟闪存控制器空闲、触发和完成寄存器行为的容器，调用这些操作接口的时间是固定可预期的，可预估SSD主控芯片中CPU算力的上限，从而对4K随机读命令IOPS等性能指标的分析和改进具有较强的指导作用。