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案件記録
一种面向温度变化的闪存可靠性预测方法及装置
発明有効
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§ Ⅰ
案件概要
発明者
刘政林; 骆一凡; 张睿; 李成龙; 周学鹏; 李廖源
IPC分類
G11C 29/56 (2006.01)G06N 3/0442 (2023.01)G06N 3/096 (2023.01)
本发明公开了一种面向温度变化的闪存可靠性预测方法及装置,属于闪存可靠性测试领域。闪存可靠性预测方法包括:恒温闪存可靠性测试,获取足量恒温下闪存的可靠性参数样本,用于搭建模型;变温闪存可靠性测试,获取变温下闪存的可靠性参数样本,用于模型的泛化迁移;长短期记忆网络建模,通过迁移学习的方法将恒温数据的特征迁移至变温情况,提升模型对温度变化的泛化能力。本发明能够对温度变化情况下的闪存可靠性做出准确预测,同时大幅度缩减模型训练开销。
外部リソース