検索に戻る
案件記録

一种面向温度变化的闪存可靠性预测方法及装置

発明有効
6閲覧数
8請求項 · 2 独立
§ Ⅰ

案件概要

発明者

刘政林; 骆一凡; 张睿; 李成龙; 周学鹏; 李廖源

IPC分類

G11C 29/56 (2006.01)G06N 3/0442 (2023.01)G06N 3/096 (2023.01)

本发明公开了一种面向温度变化的闪存可靠性预测方法及装置,属于闪存可靠性测试领域。闪存可靠性预测方法包括:恒温闪存可靠性测试,获取足量恒温下闪存的可靠性参数样本,用于搭建模型;变温闪存可靠性测试,获取变温下闪存的可靠性参数样本,用于模型的泛化迁移;长短期记忆网络建模,通过迁移学习的方法将恒温数据的特征迁移至变温情况,提升模型对温度变化的泛化能力。本发明能够对温度变化情况下的闪存可靠性做出准确预测,同时大幅度缩减模型训练开销。

外部リソース