存储器模块测试方法与测试系统

本发明提供一种存储器模块测试方法与测试系统。所述方法包括：对多个存储器模块中的第一存储器模块执行第一测试操作；在执行第一测试操作后，记录对应于第一存储器模块的第一测试进度信息；在停止第一测试操作后，根据第一测试进度信息，将第一存储器模块分组至多个候选群组中的第一群组；以及批量对属于第一群组的多个存储器模块执行第二测试操作。由此，可提升系统针对存储器模块的测试效率。