一种内存测试设备电压校正方法及系统

本发明涉及电压校正技术领域，公开了一种内存测试设备电压校正方法及系统，方法包括：系统初始化建立基础运行环境；响应多条件触发机制的校准请求，按预设优先级启动校准任务；采集实际电压值并通过自适应PID控制算法计算基础补偿量；结合实时温度数据与温度‑电压漂移模型进行二次补偿，生成最终补偿量；将其转换为DAC控制字调整输出电压，并按预设格式存储补偿系数。本发明通过全流程自动化设计，实现精准电压补偿与多场景适配，校准效率较传统方法大幅提升，电压精度满足高速内存的严苛要求，支持在线校准与远程操作，保障测试连续性，适配复杂测试场景。