射频性能测试方法、装置及电子设备

本申请涉及射频测试技术领域，具体涉及一种射频性能测试方法、装置及电子设备，本申请的方法包括：获取待测射频前端的结构信息；构建复合激励信号，复合激励信号用于激发射频前端；获取复合激励信号激发射频前端产生的至少一个非线性响应信号的空间复场分布信息，并结合射频前端的结构信息，确定非线性响应信号从射频前端内部的产生源点至辐射点的传播路径；根据传播路径，在射频前端内部定位至少一个目标电路节点，同时确定由目标电路节点导致的非线性失真类型；根据目标电路节点以及非线性失真类型，确定并输出测试结果。本申请能够在射频前端内部定位到产生非线性失真的目标电路节点，解决了现有技术无法确定具体故障位置的问题。