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案件記録

集成电路封装件及其形成方法

発明有効
10請求項 · 3 独立
§ Ⅰ

案件概要

発明者

苏安治; 李孟灿; 刘淳亦; 陈世伟; 刘泰佑; 施伯昌; 叶德强

IPC分類

H10B 80/00 (2026.01)H10W 70/65 (2026.01)H10W 20/43 (2026.01)H10W 74/10 (2026.01)H10W 72/00 (2026.01)H10W 74/01 (2026.01)

提供了集成电路封装件及其形成方法。集成电路封装件可以包括:第一再分布结构;第一桥接管芯,位于第一再分布结构上方;第一密封剂,位于第一桥接管芯周围;第二再分布结构,位于第一桥接管芯和第一密封剂上方;第一逻辑管芯、第二逻辑管芯和第一输入/输出(I/O)管芯,位于第二再分布结构上方;以及第二密封剂,位于第一逻辑管芯、第二逻辑管芯和第一I/O管芯周围。第一I/O管芯在顶视图中可以位于第一逻辑管芯和第二逻辑管芯之间。第一桥接管芯可以将第一再分布结构电连接至第二再分布结构。第一I/O管芯可以将第一逻辑管芯电连接至第二逻辑管芯。

外部リソース