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기록
横向扩散金属氧化物半导体场效应管及其制造方法
발명유효
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
王琼; 宋亮; 袁玫
IPC 분류
H10D 30/01 (2025.01)H10D 30/65 (2025.01)H10P 30/22 (2026.01)
本发明涉及一种横向扩散金属氧化物半导体场效应管及其制造方法,所述方法包括:在晶圆的第一主面形成硬掩膜;进行有源区光刻和刻蚀,在需要形成场氧层的位置去除所述硬掩膜;形成所述场氧层;在所述第一主面形成图案化的光刻胶层,覆盖在不需要形成漂移区的位置上方;以所述光刻胶层为注入阻挡层,进行漂移区注入,漂移区注入的注入离子穿过所述硬掩膜和场氧层进入晶圆中。本发明在漂移区注入时,利用硬掩膜对场氧层边缘处的注入离子进行阻挡,从而避免此处的PN结结深过深和离子掺杂浓度过高,能够实现此处JFET区域的注入离子快速耗尽,进而降低此处的电场强度,优化提高器件耐压和可靠性。