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기록
一种氮化镓器件及其制备方法
발명유효
2조회수
9청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
刘晓鹏; 刘洪伟; 杜隆纯; 王仙翅; 蔡钊
IPC 분류
H10D 30/47 (2025.01)H10D 62/10 (2025.01)H10D 30/01 (2025.01)
本发明涉及氮化镓器件技术领域,特别涉及一种氮化镓器件及其制备方法。氮化镓器件由下至上依次包括:衬底;缓冲层;GaN沟道层;AlGaN势垒层;栅极;源极;漏极;在所述栅极靠近漏极侧面的竖直方向投影处,缓冲层对应有一厚度落差,其靠近漏极侧区域厚度小于靠近源极侧区域厚度;在所述缓冲层栅漏区域,有一GaN沟道掺杂区。针对氮化镓器件栅极区域和栅漏区域在工作时的不同电场分布,进行对应的GaN沟道层厚度设计,提升器件栅控能力,减少关态漏电;在栅漏区域下方投影的GaN沟道层特定位置制备GaN掺杂区,通过调整器件关断状态下的耗尽层空间电荷密度及分布,均匀化电场分布,降低电场峰值,提高器件耐压能力。