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기록
一种实现蓝膜上半导体器件表面脏污清洗方法
발명유효
10청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
韩昭磊; 王文申
IPC 분류
H10P 70/00 (2026.01)
本发明提供了一种实现蓝膜上半导体器件表面脏污清洗方法,涉及半导体器件清洗技术领域,包括:步骤S1:配置清洗药水;步骤S2:采用毛刷蘸取清洗药水后对半导体器件刷洗;步骤S3:使用纯水冲洗半导体器件表面残留的药水;步骤S4:使用氮气枪对半导体器件吹干;步骤S5:步骤S4完成后半导体器件有脏污继续清洗,半导体器件外观干净则清洗完毕。本发明既能解决芯片表面脏污问题,还不会造成蓝膜发生质变。清洗效率高,对器件表面基本无损伤。