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SOI芯片结构的制备方法及SOI芯片结构

발명유효
2조회수
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

雷红; 汪维金; 丁昌库; 蒋小涵; 刘嘉琦

IPC 분류

H10W 10/00 (2026.01)H10W 10/10 (2026.01)H10W 20/43 (2026.01)

本发明提供了一种SOI芯片结构的制备方法及SOI芯片结构,该方法通过将已经制备好半导体器件的第一晶圆与第二晶圆键合,并将第一晶圆的衬底从背面减薄至目标顶硅层厚度,随后在减薄后的顶硅层表面生长氧化层,形成SOI结构,并在SOI结构中形成背部互连结构以连接半导体器件,从而形成SOI芯片结构。该方法使用常规半导体器件晶圆、生产工艺就能制作SOI芯片结构,同时由于顶硅层厚度灵活可控,因此无需额外的SOI晶圆就能同时满足PD‑SOI或FD‑SOI芯片的制作,也无需额外的工艺调整或者专用设备投入;另外由于半导体器件已经在前导工艺中完成,本发明的整体工艺流程对SOI器件的性能并无影响,因此在保证SOI芯片质量的基础上显著降低了SOI芯片制造的技术门槛与成本。