触控检测方法、触控芯片及电子设备

本申请公开一种触控检测方法、触控芯片及电子设备，该方法应用于包括n列触控驱动电极，及与n列触控驱动电极正交的m行触控感应电极的触控装置，其中，每列触控驱动电极形成第一信号通道，每行触控感应电极行成第二信号通道，n≥2，m≥2，方法包括：响应于触控操作，控制n列触控驱动电极通过对应的第一信号通道发射连续信号；控制m行触控感应电极通过对应的第二信号通道接收n个连续信号，对n个连续信号中的每个连续信号进行混频和处理计算得到m行检测信号；基于m行检测信号生成原始数据矩阵；根据原始数据矩阵确定所述触控操作对应的触控位置。本申请可以提高触控准确度。