CNIPA.AI
검색으로 돌아가기
기록

光检测装置和电子设备

발명유효
1조회수
17청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

IPC 분류

H10F 39/18 (2025.01)

本发明提供了一种适于小型化的光检测装置。光检测装置包括:半导体层,其包括呈矩阵状的多个单元区域,每个单元区域具有构造在其中的光电转换单元,并且该半导体层包括构造在其中的第一导电类型的第一半导体区域;以及第一栅电极和第二栅电极,其被设置为经由栅极绝缘膜面向第一半导体区域,并且通过被设置为与绝缘薄膜的一侧的表面或另一侧的表面接触而彼此电气分离。