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一种基于超表面的偏振测量装置
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§ Ⅰ
개요
IPC 분류
G01J 4/00 (2006.01)
本发明公开了一种基于超表面的偏振测量装置,涉及偏振测量技术领域,包括:超表面,包括多个规则排列的子超表面,多个子超表面用于对准直光束中不同的目标偏振态光束进行聚焦;每个子超表面区域被配置为:对与其对应的目标偏振态光束施加聚焦相位分布,使目标偏振态光束汇聚至光电器件上的焦点位置;对与其对应的目标正交偏振态光束的施加发散相位分布,使目标正交偏振态光束进行发散;根据多个光功率重构入射光束的斯托克斯参数,通过斯托克斯参数测量其偏振态信息。本发明在宽波段范围内尽可能降低通道间的固有串扰,减少对后续校准的依赖,增强装置在宽波段入射条件下的分析准确性。