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案件記録
AEM电解槽的密封件的测试方法
発明不明
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§ Ⅰ
案件概要
IPC分類
G01M 13/005 (2019.01)G01M 13/00 (2019.01)
一种AEM电解槽的密封件的测试方法,包括:提供具有密封件的模拟组件,对所述模拟组件依次进行n次冷热冲击测试和m次加速老化测试,n和m均为正整数;对每一次冷热冲击测试后以及每一次加速老化测试后的模拟组件,均进行气密性测试,并得到泄漏率,当泄漏率大于等于第一预设阈值时,判定密封件失效。本申请的AEM电解槽的密封件的测试方法可以追踪泄漏率的渐进变化,能反映AEM电解槽在真实使用中密封性能逐渐劣化的过程,通过组合序列、中间检测、阈值判定,构建了一个更接近真实工况的多应力、渐进式失效模型,有助于实现AEM电解槽在实际应用中的预防性维护,有效解决了现有的密封组件的测试方法与真实工况脱节的问题。
外部リソース