一种嵌入式路用智能加速度传感器加速寿命测试方法

本申请涉及一种嵌入式路用智能加速度传感器加速寿命测试方法。所述方法包括：确定待测试传感器所对应的不同寿命测试环境的测试数据；按照各寿命测试环境对应的预设测试顺序，基于不同寿命测试环境的测试数据，依次对待测试传感器进行寿命测试，得到待测试传感器在每一寿命测试环境对应的寿命测试结束时的参考测试结果；根据各参考测试结果，确定待测试传感器对应的寿命测试结果。上述过程中，各寿命测试环境对应的预设测试顺序可以模拟传感器在真实环境下的损伤过程，因此，基于各寿命测试环境对应的预设测试顺序，可以得到更加准确的参考测试结果，从而可以提高寿命测试结果准确性。