半导体器件检测方法及控制系统、风险预测模型构建方法

一种半导体器件检测方法及控制系统、风险预测模型的构建方法，属于半导体技术领域。所述检测方法包括：S1：初始化系统并设定初始输入激励参数范围；S2：动态优化初始输入激励参数范围；S3：施加分区间激励信号：S4：修正实际输出结果；S5：第一映射关系的构建；S6：构建仿真软件并生成仿真输出结果，构建第二映射关系；S7：通过对比两组映射关系中的输出结果，判断半导体器件是否合格。本申请通过自适应优化算法动态优化输入激励参数范围，通过持续多轮迭代，可以更精确地找到让器件表现最佳的信号范围，可根据不同器件类型与批次自动调整输入激励范围，特别适用于新型和复杂结构的半导体器件检测，显著提升了检测精确性。