一种基于ATE的SIP器件自动测试方法

本发明提供了一种基于ATE的SIP器件自动测试方法，所述方法包括：设计自动测试架构；将被测SIP通过测试夹具与测试板电气连接，通过JTAG接口与配置程序烧录单元电气连接；编写用于测试SIP的若干配置程序；编写ATE的测试程序；在测试过程中，ATE控制单元控制ATE向测试板供电；向板上控制单元发送当前执行测试项所需配置程序对应的指令向量；将配置程序下载至被测SIP的FPGA或FLASH内；下载完成后，若当前执行测试项为功能测试项，则ATE向被测SIP发送对应的测试向量测试SIP的功能；若当前执行测试项为直流参数测试项，则ATE向被测SIP发送对应的测试向量的同时按照测试程序施加测试激励，并测量SIP参数；遍历测试序列直至完成全部测试项的自动测试。