一种芯片测试设备

本发明提供了一种芯片测试设备，涉及芯片测试技术领域。本发明中每个导电件与对应的承接位电连接，从而与对应的被测芯片底面的负极焊盘电连接，并利用第一驱动件同步驱动探针组件和对接件移动，使探针组件与正极焊盘接触的同时对接件与导电件接触，从而建立完整的测试回路，能够适用于负极焊盘设置于芯片底面的芯片测试，并保证正、负测试通路同步建立，提高测试回路建立的稳定性及芯片测试的可靠性。同时，利用转盘带动两个承接位在上下料工位和测试工位之间切换，可在一个承接位进行测试的同时另一个承接位完成上下料，有利于提高芯片测试效率。