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Dossier

设备测试装置、设备测试方法和系统

InventionUnknown
13Claims · 6 independent
§ Ⅰ

Dossier Overview

Inventor

彭真; 黄旭; 涂维政

Filing Date

Jul 22, 2026

Publication Date

Oct 16, 2026

IPC Classification

G06F 11/22 (2006.01)

本申请提供了一种设备测试装置、设备测试方法和系统,属于测试技术领域。本申请实施例提供的设备测试装置,包括寄存器、测试激励模块、激励处理模块以及数据分析模块,能够通过寄存器来对设备测试装置内的各个构成进行统一配置,从而形成一致的测试环境,即可以满足单一场景的需求,也可以良好的兼容复杂场景的测试需求,能够大幅提升测试的灵活性。

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