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系统测试方法及装置
발명알 수 없음
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
胡建骥; 薛伟; 尹亚林; 刘卓林; 彭燕华
출원일
Aug 31, 2026
공개일
Oct 16, 2026
IPC 분류
G06F 11/22 (2006.01)G06F 18/22 (2023.01)
本申请涉及数据测试技术领域,提供一种系统测试方法及装置。该方法包括:根据获取的待测试系统,查询历史系统数据库中的历史测试系统,得到待测试系统的相似系统集合;并根据相似系统集合中各系统执行过的初始故障测试方案和待测试系统自身的历史故障测试记录,生成候选故障测试方案集合;依次将候选故障测试方案集合中的每一候选故障测试方案作为目标故障测试方案,根据目标故障测试方案的效用值和相似系统集合中各系统与待测试系统的相似度,确定目标故障测试方案的推荐分数,基于推荐分数,从候选故障测试方案集合中确定最终故障测试方案对待测试系统进行测试。本申请可以高效地选择出适合待测试系统的故障测试方案,提高系统测试的效率。
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