一种扫码设备性能测试方法、系统、装置及存储介质

本申请公开了一种扫码设备性能测试方法、系统、装置及存储介质，所述方法包括：建立扫码设备与载码器的时间同步基准，使时间偏差小于预设值；将扫码设备的属性信息输入预测引擎，预测性能缺陷并生成测试脚本；根据测试脚本执行至少一轮测试迭代，每轮迭代中采集运行数据，添加时间戳封装为扫码事件包；当扫码失败时，将失败信息作为失败事件存入事件包；分析失败事件并对扫码设备或载码器进行校准；校准后当新一轮测试结果满足迭代终止条件时，生成性能信息。本申请通过时间同步、主动预测、事件封装和闭环校准的结合，解决了现有技术中数据分散、测试脚本僵化的问题，提高了测试准确性。