判断是否弱编程引起数据保持失效的测试方法

本发明提供了一种判断是否弱编程引起数据保持失效的测试方法，包括：向闪存单元写入数据，对闪存单元进行老化模拟；读取闪存单元中存储的数据，将读出电流与第一标准电流进行比较，以得到第一合格品和第一不合格品；降低第一标准电流的值得到第二标准电流，将第一合格品的读出电流与第二标准电流进行对比，得到第二合格品和第二不合格品，记录第二不合格品的第一次失效闪存单元的地址；对通过开路测试和短路测试后的第二不合格品，再次将读取电流与第一参考电流进行对比，如果失效，记录第二不合格品的第二次失效闪存单元的地址；判断第二次失效闪存单元的地址是否与第一次相同，如果相同，则判断闪存单元为弱编程引起数据保持失效。