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기록

半导体器件及其制造方法

발명알 수 없음
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

魏丹清; 尹鹏

출원일

Jul 22, 2026

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

H10W 10/00 (2026.01)H10W 10/17 (2026.01)H10P 30/20 (2026.01)

本发明提供一种半导体器件及其制造方法,半导体器件的制造方法包括:提供预处理基板,所述预处理基板包括第一表面,所述第一表面开设有第一开口;在所述第一开口内形成牺牲层;在所述第一表面一侧形成掺杂层;从所述预处理基板远离所述第一表面一侧减薄所述预处理基板,直至暴露所述牺牲层,其中,减薄后的所述预处理基板为基板;去除所述牺牲层;形成填充层,所述填充层位于所述第一开口内。本发明的技术方案使得不仅能够形成所需的深沟槽隔离结构,还能降低暗计数率。