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案件記録

一种硅通孔互连结构及制备方法

発明不明
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7請求項 · 2 独立
§ Ⅰ

案件概要

発明者

赵凯; 李丹婷

出願日

Sep 10, 2026

公開日

Oct 16, 2026

IPC分類

H10W 20/20 (2026.01)H10W 20/00 (2026.01)H10F 39/18 (2025.01)H10F 39/12 (2025.01)

本发明提供了一种硅通孔互连结构及制备方法,其避免应力在拐角处集中,且降低热循环过程中不同材料间的热应力差值,进一步缓解应力集中现象,提升结构可靠性。一种硅通孔互连结构,其包括:硅基底;硅通孔,其为斜孔硅通孔或直孔硅通孔;钝化层;互连结构;以及阻焊层;所述硅通孔形成于硅基底、并在厚度方向连通到下方的芯片焊盘,所述硅通孔的底部径向外围、侧壁以及硅基底的上表面复合有所述钝化层,所述钝化层的上还复合有所述阻焊层,所述阻焊层、钝化层对应于硅通孔的区域设置有连通至芯片含片的通道,所述通道内填充所述互连结构。

外部リソース