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기록
半导体装置封装及其制造方法与治具
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§ Ⅰ
개요
IPC 분류
H10W 74/10 (2026.01)H10W 74/01 (2026.01)H10P 72/00 (2026.01)H10D 80/30 (2026.01)F16K 15/02 (2006.01)
本揭露提供了一种半导体装置封装及其制造方法与治具。所述半导体装置封装包含一基板,所述基板具有一第一表面、一第二表面及由所述第一表面延伸至所述第二表面的一孔洞;一第一电子组件,设置于所述基板的所述第二表面上且覆盖所述孔洞;以及一第一封装层,包覆所述第一电子组件,其中所述第一封装层具有一延伸部,所述延伸部填充所述孔洞的一部份。一基板,所述基板具有一第一表面、一第二表面及由所述第一表面延伸至所述第二表面的一孔洞;一第一电子组件,设置于所述基板的所述第二表面上且覆盖所述孔洞;以及一第一封装层,包覆所述第一电子组件,其中所述第一封装层具有一延伸部,所述延伸部填充所述孔洞的一部份。