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分析仪装置
발명알 수 없음
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§ Ⅰ
개요
IPC 분류
G01N 35/00 (2006.01)G01N 35/04 (2006.01)G01N 35/02 (2006.01)G01N 35/10 (2006.01)
本发明提供一种分析仪装置,包括:至少一个分析仪;去盖机构,用于对吸样前的有盖样本容器进行去盖处理;加盖机构,用于对无盖的样本容器进行加盖处理;样本装载装置,用于将至少部分有盖的样本容器调度至去盖机构进行去盖处理,以及将去盖后的样本容器调度至吸样区以进行吸样;样本卸载装置,用于将至少部分无盖的样本容器调度至加盖机构进行加盖处理;控制装置,控制装置与分析仪、去盖机构、加盖机构、样本装载装置以及样本卸载装置通信连接,至少用于:控制样本装载装置将至少部分有盖的样本容器调度至去盖机构处进行去盖处理,并将去盖后的样本容器调度至吸样区,以及控制样本卸载装置将至少部分无盖的样本容器调度至加盖机构进行加盖处理。
§ Ⅵ
특허 도면
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