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一种3D堆叠封装结构及制备方法
发明专利未知
8权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
IPC 分类
H10W 70/67 (2026.01)H10W 70/68 (2026.01)H10W 72/50 (2026.01)H10W 72/00 (2026.01)
本发明提供了一种3D堆叠封装结构及制备方法,其解决传统氧化硅介质结构刚性不足、散热差、应力缓冲弱的问题,有效降低硅基底整体翘曲,大幅改善后续多层制程应力拉扯形变,提升晶圆整体平整度与制程稳定性。其包括:硅基基底;芯片;绝缘缓冲层,其为纯金刚石绝缘缓冲层或多层复合缓冲绝缘结构,所述多层复合缓冲绝缘结构的底层为金刚石层;整体绝缘干膜;正面多层重布线层,其包括至少两层RDL重布线线路,位于底层的RDL重布线线路为第一层RDL重布线线路,位于顶层的RDL重布线线路为顶层RDL重布线线路;以及背面多层重布线层,其包括至少一层RDL重布线线路。
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