検索に戻る
案件記録

一种二极管测试工装及测试方法

発明不明
10請求項 · 2 独立
§ Ⅰ

案件概要

発明者

陈前; 孙跃威; 马玉祥; 李清范; 徐文杰

出願日

Jul 31, 2026

公開日

Oct 27, 2026

IPC分類

G01R 31/26 (2020.01)

本发明提供了一种二极管测试工装及测试方法。该二极管测试工装包括:测试电路板;多个测试支路;二极管夹具,用于以非焊接方式夹持固定被测二极管;多路开关网络,多路开关网络分别与多个测试支路、二极管夹具电连接;控制模块,用于控制多路开关网络内部开关的通断组合,以切换被测二极管所接入的测试支路和被测二极管的偏置方向,获取被测二极管的电特性参数。本发明提供的一种二极管测试工装及测试方法,克服了传统检测需人工切换测试线路、进行焊接操作的弊端。

ログインして全文を読む

請求項 1 を表示しています。無料登録で全 10 項の請求項、明細書全文、全図面、翻訳、法的状態を閲覧できます。

  • 全請求項
  • 技術分野
  • 背景技術
  • 発明の概要
  • 図面の説明
  • 発明を実施するための形態

外部リソース