一种拓扑量子计算芯片的多层次系统集成架构

本发明公开了一种拓扑量子比特阵列的系统级测试与校准接口。所述接口包括测试模式控制单元、测试向量生成单元、测试响应采集单元、校准参数计算单元、校准参数存储单元和校准参数加载单元。所述方法通过切换至测试模式配置测试通道，执行自动化测试序列覆盖所有量子比特和功能模块，采集测试响应数据，计算校准参数，存储校准参数，切换至工作模式加载并应用校准参数。本发明实现了拓扑量子比特阵列的高效系统级测试与校准，可广泛应用于量子芯片的出厂检验和系统集成验证领域。