一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

本申请提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待检测图像中待抑制目标的初始区域坐标信息和参考特征点的实际坐标，及通过对待检测图像中待抑制目标进行分割得到的第一掩膜图像；根据参考特征点的实际坐标和标准模板坐标间的对应关系将待抑制目标的初始区域坐标信息映射至标准位姿空间，得到待抑制目标的目标区域坐标信息；根据待抑制目标的目标区域坐标信息对待抑制目标区域边界进行扩展；根据待抑制目标的扩展区域坐标信息和第一掩膜图像对待检测图像中待抑制目标的特征进行抑制，以基于抑制完成的待检测图像进行缺陷检测。通过本申请能够精准覆盖图像中的抑制区域，避免缺陷误检。