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기록
承载结构及半导体工艺腔室
발명알 수 없음
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
肖承龙; 王欢; 李轩; 刘敬彬
출원일
Apr 17, 2025
공개일
Oct 27, 2026
IPC 분류
H10P 72/00 (2026.01)H10P 72/76 (2026.01)
本申请公开了一种承载结构及半导体工艺腔室,涉及半导体领域。一种承载结构,包括:第一壳体和第二壳体;所述第一壳体与所述第二壳体扣合连接,围成用于容纳晶圆的容纳腔;所述第一壳体具有背离所述第二壳体的第一壁面,所述第一壁面设有多个第一凹槽;和/或,所述第二壳体具有背离所述第一壳体的第二壁面,所述第二壁面设有多个第二凹槽。本申请至少能够解决晶圆加热效率低等问题。
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