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기록
TIME COMPENSATION METHOD AND SYSTEM FOR INTERFERENCE TEST DEVICE
발명심사 중
§ Ⅰ
개요
출원인
Beijing Jingwei Hirain Technologies Co., Inc.
발명자
WANG, Ziyu; CUI, Hangtao; YANG, Ran; WANG, Yongting
출원일
Jul 10, 2024
공개일
Jan 6, 2026
IPC 분류
H04J
출원인
Beijing Jingwei Hirain Technologies Co., Inc.
발명자
WANG, Ziyu; CUI, Hangtao; YANG, Ran; WANG, Yongting
출원일
Jul 10, 2024
공개일
Jan 6, 2026
IPC 분류