合肥钢研稀土永磁材料研究院有限公司

本发明涉及一种辐向取向永磁环磁性能检测方法及设备，属于永磁材料测试技术领域。该方法旨在解决现有技术无法准确测量辐射辐向取向永磁环真实磁性能的问题。所述方法包括：沿辐向取向永磁环径向切取规定形状的测试样品并记录其几何与位置参数；基于样品体积内磁矩投影的体积平均计算校正系数K；测量样品的初测退磁曲线；应用K值逐点修正得到真实退磁曲线及关键磁性能指标。所述设备集成了样品夹持、磁场产生、磁性测量、控制与采集、数据处理与结果显示单元。本发明通过几何校正消除了因样品内晶粒取向不一致带来的测量值偏低的问题，兼容现有主流磁性测量设备，为辐向取向永磁环的质量控制与标准化检测提供了可靠依据。

本发明属于磁共振成像技术领域，涉及一种轻量化和磁场强度温度特性可控的低场MRI磁路设计方法及其磁体系统。该方法在MRI磁路的磁极盘中设置并列排布的永磁材料和软磁材料，通过调整永磁材料和软磁材料的质量比和相应的排布方式，使软磁材料的磁导率的温度变化特性与永磁材料的剩磁温度特性实现负相关匹配，从而调控磁场强度温度特性并提高磁场的温度稳定性。该磁体系统包括上磁极盘、下磁极盘、铁轭支架和极头。本发明在充分利用永磁材料的超高磁能积实现设备轻量化的同时，利用软磁材料进行复合磁路设计以减弱永磁材料的磁场强度随温度的快速变化，并构建了对环境温度变化不敏感的轻量化低场MRI稳定磁体系统。