内部集成电路总线的从属装置的测试方法
本发明公开一种内部集成电路总线的从属装置的测试方法,包含:(A)开始该从属装置的第一读取操作或第一写入操作,其中该第一读取操作或该第一写入操作包含传送命令、应答信号、数据、地址或控制字节到该从属装置的子操作;(B)在该子操作结束后,或是在该子操作的中间,传送开始命令或结束命令到该从属装置;(C)在步骤(B)之后,对该从属装置进行第二读取操作或第二写入操作;以及(D)在步骤(C)之后,判断该第二读取操作或该第二写入操作是否正确。
APPLICANTS
浏览来源中的申请人名称,以及导入专利中保留的原始名称字段。
这里按名称检索,不代表已核验的法律主体。同名可能指不同个人或组织;别名和历史名称不自动合并。
此名称取自原 XML 中独立的申请人节点。
6 条已索引专利记录
专利数量指本站收录的去重专利记录,不是该申请人的完整专利总量。联合名称字段不代表单一企业。
目前没有可核验的数据覆盖日期和最后导入时间。专利公开日期不等于导入日期。目录缓存可能使新导入记录延迟出现。
在本地原始申请人字段中搜索包含这段完整文字的记录,可能包括联合名单或更长名称;这不是精确主体检索。
按此申请人条件检索专利