内部集成电路总线的从属装置的测试方法

本发明公开一种内部集成电路总线的从属装置的测试方法，包含：(A)开始该从属装置的第一读取操作或第一写入操作，其中该第一读取操作或该第一写入操作包含传送命令、应答信号、数据、地址或控制字节到该从属装置的子操作；(B)在该子操作结束后，或是在该子操作的中间，传送开始命令或结束命令到该从属装置；(C)在步骤(B)之后，对该从属装置进行第二读取操作或第二写入操作；以及(D)在步骤(C)之后，判断该第二读取操作或该第二写入操作是否正确。