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基于激光后向散射强度分布的校轴方法及复合探测系统

发明专利未知
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10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

何程; 陈臻; 周金梅; 郭广盟; 王宇; 廖胜

申请日

Aug 12, 2026

公开日

Oct 20, 2026

IPC 分类

G01S 7/497 (2006.01)G01V 13/00 (2006.01)G01S 17/86 (2020.01)

本发明公开了一种基于激光后向散射强度分布的校轴方法以及复合探测系统。复合探测系统包括激光探测通路、红外和/或可见光探测通路以及数据处理器,激光探测通路包括激光阵列探测器、激光动反射镜。该校轴方法包括:发射步骤,通过激光探测通路向待探测空间发射激光束;接收步骤,激光阵列探测器探测激光束传输时产生的后向散射光以获得后向散射光强度;获得步骤,数据处理器根据后向散射光强度的分布获得激光发射轴和激光接收轴之间的光轴偏差,从而获得激光动反射镜的调节量;校正步骤,基于调节量调整激光动反射镜以校正光轴偏差,从而同时实现激光发射轴与激光接收轴、红外和/或可见光探测通路的光轴的校准。

§ Ⅵ

专利附图

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