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GRAPHIC OVERLAY FOR SAMPLE CAMERA IN X-RAY MICROSCOPE
发明专利审中
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§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
CHANG, Hauyee; KOTWAL, Naomi; TAN, Meow
申请日
Feb 25, 2024
公开日
Jan 6, 2026
IPC 分类
G01N
CPC 分类
G01NG01N2223/306G01N2223/422G06FG02BG06F
发明人
CHANG, Hauyee; KOTWAL, Naomi; TAN, Meow
申请日
Feb 25, 2024
公开日
Jan 6, 2026
IPC 分类
CPC 分类