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METHOD AND SYSTEM FOR GUIDED PARAMETER SELECTION IN X-RAY MICROSCOPE

发明专利审中

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§ Ⅰ

卷宗概要

申请人

Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc.

发明人

CHANG, Hauyee; KOTWAL, Naomi; HANLON, Justin; TAN, Meow; WHITE, Robin; SMYTH, Brian; KRAMPERT, Gerhard; DUTSCHKE, Anke

申请日

Feb 25, 2024

公开日

Jan 6, 2026

IPC 分类

G01NG06F

CPC 分类

G01NG06FG06F

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