№ CN122925125A発明
不明一种AI硬件改进型适配的全链路自动化测试方法及系统
本发明公开了一种AI硬件改进型适配的全链路自动化测试方法及系统,涉及AI硬件测试技术领域。包括:获取待测试AI硬件在多种基准工作负载下的实时运行参数序列;采集底层固件配置信息及指令集架构特征,生成硬件动态指纹特征;根据硬件动态指纹特征与预设的适配性测试基准库进行相似度匹配,计算各测试场景下的适配权重;将适配权重映射至全链路测试流程的节点执行顺序,生成包含资源分配比例及数据流路径选择的状态配置映射向量;基于该向量对测试流程进行动态编排,构建包含并行执行分支及条件回退机制的自动化测试执行图。通过硬件感知的动态适配,提升对AI硬件改进型适配测试的针对性与效率。
❖中凝(北京)科技有限公司门可心; 赵欣彤Oct 16, 2026§ 2/10 請求項G06F 11/22 (2006.01), G06F 11/34 (2006.01), G06F 18/22 (2023.01)