一种AI硬件改进型适配的全链路自动化测试方法及系统

本发明公开了一种AI硬件改进型适配的全链路自动化测试方法及系统，涉及AI硬件测试技术领域。包括：获取待测试AI硬件在多种基准工作负载下的实时运行参数序列；采集底层固件配置信息及指令集架构特征，生成硬件动态指纹特征；根据硬件动态指纹特征与预设的适配性测试基准库进行相似度匹配，计算各测试场景下的适配权重；将适配权重映射至全链路测试流程的节点执行顺序，生成包含资源分配比例及数据流路径选择的状态配置映射向量；基于该向量对测试流程进行动态编排，构建包含并行执行分支及条件回退机制的自动化测试执行图。通过硬件感知的动态适配，提升对AI硬件改进型适配测试的针对性与效率。