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案件記録

一种电磁功能结构可靠性增长试验方法

発明不明
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8請求項 · 1 独立
§ Ⅰ

案件概要

発明者

李月琦; 门薇薇; 于吉选; 周春苹

出願日

Jul 23, 2026

公開日

Oct 16, 2026

IPC分類

G06F 30/27 (2020.01)G06F 30/10 (2020.01)G06F 119/02 (2020.01)

本发明提供一种电磁功能结构可靠性增长试验方法,包括以下步骤:S1:开展FMEA分析,划分故障类型,定位结构薄弱环节与故障高发工况;S2:设定可靠性目标,基于Arrhenius模型计算加速因子,针对吸波、信号传输两种工作状态,结合加速因子制定试验大纲;S3:展加速退化试验,采集试验数据,并完成数据预处理与趋势检验,获得预处理试验数据;S4:开展材料、工艺迭代优化,得到迭代方案,执行S2和S3,最终形成全维度试验数据;S5:利用所述全维度试验数据,分别采用Duane模型、AMSAA模型,进行参数拟合与性能对比,选定最优模型,计算可靠性指标;S6:利用可靠性指标,汇总全维度试验数据,分析靠性增长效果,提出工程化优化方案。

外部リソース