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案件記録

一种深腔内部底切结构的清洗方法

発明不明
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10請求項 · 1 独立
§ Ⅰ

案件概要

発明者

王光涛

出願日

Aug 5, 2026

公開日

Oct 20, 2026

IPC分類

B81C 1/00 (2006.01)B08B 3/02 (2006.01)B08B 13/00 (2006.01)

本发明属于微纳制造湿法工艺技术领域,具体涉及一种深腔内部底切结构的清洗方法,低速定向压力清洗,晶圆基片固定在转轴上,转轴与水平方向设定既定角度;转轴以设定慢速进行旋转;以稳定压力在晶圆基片的待清洗侧喷射去离子水清洗第一固定时间;中速离心置换冲洗,提升转轴的转速至设定中速旋转;继续以稳定压力在晶圆基片的待清洗侧喷射去离子水第二固定时间;高速甩干,完成中速离心置换冲洗后,停止喷射去离子水;转轴以设定高速甩干晶圆基片的残留去离子水第三固定时间;干燥处理,对晶圆基片进行干燥处理。本发明通过先清洗,然后对清洗用的去离子水进行置换,置换完成后对残留的去离子水进行甩干,有效实现对晶圆基片的深腔底切的清洗。

§ Ⅵ

特許図面

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