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本发明公开了一种多模态闭环自适应源测量单元架构及其控制方法，属于电子测试测量与半导体器件表征技术领域。本发明用于半导体器件I‑V特性表征与光电器件性能测试。该架构包括主功率源测环路、辅助噪声温漂补偿环路、平滑自适应量程切换单元、负载自适应闭环控制单元及高速同步与多场景管控单元。主功率源测环路实现四象限功率输出与同步测量；辅助噪声温漂补偿环路采集噪声与温度并生成反向补偿信号；平滑自适应量程切换单元实现分阶段软切换；负载自适应闭环控制单元依据负载类型匹配PID参数；高速同步与多场景管控单元统一管控时序同步。本发明实现了fA级电流、μV级电压的高稳定测量，解决了量程切换震荡与动态负载失稳问题。

本发明公开了一种大功率有源驻波测试系统幅相一致性测试装置和方法，属于天线测试技术领域。针对现有技术无法在大功率激励下进行多通道幅相一致性测试且缺乏大功率校准件的问题，通过设置多个大功率固定衰减器将各通道大功率激励信号安全衰减后接入矢量网络分析仪，并利用设有基准链路和多个测试链路的机械开关模块，以基准链路为固定参考、测试链路并行接入矢网各接收机，通过测试控制模块分时分组切换实现多通道并行采集，先对接收机自身和测试链路进行幅相原始数据校准，再在大功率激励下测量实测幅相差异，扣除接收机与链路差异后反向调整激励源，无需大功率校准件，即可准确完成大功率场景下多通道幅相一致性测试，并显著提升测试效率。