3D结构光多量程测量的标定方法、测量方法及装置

本发明提供了一种3D结构光多量程测量的标定方法、测量方法及装置，涉及AOI工业视觉检测的技术领域，包括：根据相机信息和DLP信息，确定标定用的倍频正弦条纹和倍频正弦条纹对应的格雷码；采集DLP在竖直方向上以预设量程移动时，对倍频正弦条纹进行投影得到的条纹图像，并基于条纹图像进行多步相移计算处理，得到条纹图像的相对相位；通过预设倍频算法，基于调制度，从倍频正弦条纹中确定目标相对相位，并将目标相对相位与格雷码结合，确定绝对相位；针对绝对相位进行相位折算处理，得到目标相位，以通过目标相位确定预设相位高度对照模型的非参标定的拟合参数，并将非参标定的拟合参数保存为标定文件。本发明可以显著提升测量效率和精确度。