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기록

一种谐振子品质因数及其不均匀性快速测试装置

발명유효
1조회수
10청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

冯毅博; 陈晓磊; 贺宇; 刘泽林; 刘航铖

IPC 분류

G01C 19/56 (2012.01)G01C 25/00 (2006.01)G01C 19/5783 (2012.01)G01C 19/5705 (2012.01)

本发明公开了一种谐振子品质因数及其不均匀性快速测试装置,包括:真空系统、激励系统、谐振子、夹持与转位装置、激光测振仪和解算模块;以物理敲击的方式激励谐振子振动;使用激光测振仪获取谐振子测试位置单点位移数据;采用频域分析法获取谐振子固有频率和频差;将测试数据按时间分段后,进行频谱分析,获取不同时间段内位移信号的幅值谱密度,利用两个固有频率点幅值谱密度变化,获取谐振子圆周品质因数差异;最后计算得到两个品质因数。本发明实现了单次测试准确辨识谐振子品质因数及其不均匀性的目的,具有测试速度快、对测试设备数量要求少、测试精度高、实用性好等优点,极大地提高了谐振子品质因数及其不均匀性测试效率。