可靠性风险确定方法、装置、设备、存储介质和程序产品

本申请涉及一种可靠性风险确定方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：获取集成芯片中的目标评估结构对应的第一失效时长，第一失效时长是对目标评估结构在目标环境应力条件下进行加速寿命试验确定的；获取目标评估结构对应的失效物理模型，失效物理模型用于描述目标评估结构的失效时长与环境应力条件的对应关系；将目标环境应力条件输入失效物理模型中，确定目标评估结构对应的第二失效时长；根据第一失效时长与第二失效时长之间的误差确定目标评估结构的可靠性风险确定结果。采用本方法能够准确确定集成电路芯片可靠性风险。