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一种GaN肖特基二极管及其制备方法
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§ Ⅰ
개요
발명자
冯宇翔; 王月; 牛冰; 钟圣荣; 谢颖熙; 华庆; 冯可馨; 张超逸; 文建; 韩亚林; 单联瑜; 盛爽
출원일
Jun 10, 2026
공개일
Oct 16, 2026
IPC 분류
H10D 8/01 (2025.01)H10D 8/60 (2025.01)
本申请属于半导体技术领域,公开了一种GaN肖特基二极管及其制备方法,制备方法包括以下步骤:在衬底布置面上依次外延成型AlN成核层、GaN缓冲层、重掺杂GaN传输层、AlGaN插入层与轻掺杂GaN漂移层;对轻掺杂GaN漂移层选择性刻蚀以形成纳米柱结构,在纳米柱以及轻掺杂GaN漂移层依次沉积AlN层和GaO层以构成复合介质层;刻蚀形成阴极沟槽;刻蚀裸露出纳米柱的顶端,于沟槽底部和纳米柱顶部分别沉积欧姆接触金属层,最后在纳米柱侧壁的复合介质层表面沉积肖特基接触金属层,得到GaN肖特基二极管。本申请有效平衡GaN肖特基二极管正向导通与反向阻断两类关键指标,既降低导通损耗,又显著抑制反向漏电、提升击穿耐压。