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键合结构、键合结构的制备方法及半导体器件

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15청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

王坤; 孙远

출원일

Jul 13, 2026

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

H10W 80/00 (2026.01)H10P 10/00 (2026.01)H10W 72/00 (2026.01)

本申请涉及半导体器件技术领域,提供了一种键合结构、键合结构的制备方法及半导体器件,该键合结构包括衬底、阻挡层、过渡层、键合层和导电结构。其中衬底具有待键合件,阻挡层层叠设置于衬底,阻挡层远离衬底一侧的表面凹凸不平。过渡层随形层叠设置于阻挡层背离衬底的一侧,过渡层远离衬底一侧的表面凹凸不平。键合层随形层叠设置于过渡层背离衬底的一侧,键合层远离衬底一侧的表面各处齐平。导电结构贯穿设置于键合层、过渡层和阻挡层,并与待键合件电连接。该键合结构通过使阻挡层的表面凹凸不平,且过渡层和键合层依次随形层叠设置于阻挡层的一侧,以增大膜层之间的接触面积,从而增强界面结合力,防止膜层分层。