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一种片状工件双面磨抛设备及磨抛方法
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14조회수
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§ Ⅰ
개요
발명자
李游; 华鑫; 吴学勇; 范崇海; 戚典帅
출원일
Sep 11, 2026
공개일
Oct 20, 2026
IPC 분류
B24B 7/17 (2006.01)B24B 1/00 (2006.01)B24B 41/06 (2012.01)B24B 41/04 (2006.01)B24B 47/04 (2006.01)B24B 47/22 (2006.01)B24B 47/20 (2006.01)B24B 47/25 (2006.01)B24B 49/04 (2006.01)B24B 49/12 (2006.01)
本发明公开一种片状工件双面磨抛设备及磨抛方法,包括承载输送组件、第一磨抛组件、第二磨抛组件、翻面组件、检测组件和控制器。载具能够往复移动,两个磨抛组件分别执行磨削和抛光,磨削或抛光完成后载具能够在磨头避让状态下返回。第一吸附机构吸取工件并翻转,由上方第二吸附机构承接,第一吸附机构解除吸附并后退避让,第二吸附机构下移将工件放回载具。两个表面均按先磨削、后抛光的顺序加工。双面加工后载具返回上料原位,可移动的第一相机先检测工件上表面,机械手吸取工件并移至第二相机上方检测下表面。本发明通过磨头避让、吸附交接及分时检测衔接双面加工与分选。