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嵌入式闪存器件及其制备方法
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§ Ⅰ
개요
IPC 분류
H10B 41/30 (2023.01)H10B 41/42 (2023.01)
本申请提供一种嵌入式闪存器件及其制备方法,所述嵌入式闪存器件制备方法中,半导体衬底包括存储区和逻辑区,半导体衬底上形成有栅极堆叠结构和多晶硅层,栅极堆叠结构形成于存储区上,存储区与逻辑区交界处的多晶硅层具有台阶形貌,先执行第一光刻工艺形成第一掩膜层,存储区上的第一掩膜层上具有第一开口,然后执行第一刻蚀工艺刻蚀存储区的多晶硅层,再执行第二光刻工艺形成第二掩膜层,第二掩膜层填充第一开口,逻辑区上的第二掩膜层上具有第二开口,然后执行第二刻蚀工艺刻蚀逻辑区的多晶硅层,减少多晶硅层的台阶形貌对刻蚀工艺的影响,有利于提高产品良率。